Er-LEED, Auger, XPS, TOF SIMS и др.

Анализ поверхности образцов методами времяпролетной масс-спектрометрии

Английская компания Kore (http://www.kore.co.uk) спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10^-3 а.е.м. Подробнее…